蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡
更高分辨率、更高襯度、更快速度
蔡司是全球領先的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的先進光學器件，用以為研究提供業界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟，從而讓這款創新型儀器實現了研究領域的突破。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術來優化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復合材料、燃料電池、地質樣品及生物材料等。在先進的同步加速器實驗室內首次引入納米級 X 射線成像技術，蔡司 XRM 開創性解決方案始終讓您走在科學研究的前列。
通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數量級，拓展了 XRM 在科學和工業領域中的應用。對于中心顯微實驗室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內綜合利用儀器，從而利于擴大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復執行內部結構的四維和原位研究，使這些技術的應用面更廣。在諸如數字巖石物理技術等有針對性的應用中，Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性，在數小時內提供測量數據來表征關鍵性參數，如孔隙度。
蔡司是全球領先的能在實驗室儀器中提供 50 nm 分辨率無損三維 X 射線成像解決方案的廠商。除吸收襯度和 Zernike 相襯技術外，蔡司 Xradia 810 Ultra 還運用了改裝自同步加速器的先進光學器件，用以為研究提供業界出眾的分辨率和襯度。通過在傳統成像工作流程中加入關鍵的無損分析步驟，從而讓這款創新型儀器實現了研究領域的突破。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡能夠利用 5.4 keV 下的更高襯度對大量難于成像的材料進行高分辨率 X 射線成像。借助吸收襯度和相襯技術來優化大量材料的成像，如聚合物、氧化物、復合材料、燃料電池、地質樣品及生物材料等。在先進的同步加速器實驗室內首次引入納米級 X 射線成像技術，蔡司 XRM 開創性解決方案始終讓您走在科學研究的前列。
通過將納米級 X 射線成像的速度提升一個數量級，拓展了 XRM 在科學和工業領域中的應用。對于中心顯微實驗室而言，更快的工作流程意味著有更多的用戶能在更短的時間內綜合利用儀器，從而利于擴大 XRM 的用戶群。同樣，您也可以快速地重復執行內部結構的四維和原位研究，使這些技術的應用面更廣。在諸如數字巖石物理技術等有針對性的應用中，Xradia 810 Ultra 可用于評估油氣鉆探的可行性，在數小時內提供測量數據來表征關鍵性參數，如孔隙度。
蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺
三維X射線顯微鏡進行納米級力學性能原位測試的又一新選擇
進一步了解在三維負載情況下納米結構所發生的形變
蔡司Xradia Ultra新型樣品原位加載臺利用無損3D成像為您提供出色的納米級的壓縮，拉伸以及壓痕等原位力學性能測試，可以在負載情況下，實現50納米空間分辨率的研究樣品內部結構三維演化過程。了解與局域納米特征相關的形變和失效如何發生。為現有的力學測試方法提供補充，實現深入觀察多個尺度范圍的行為。
蔡司X射線顯微鏡Xradia 810 Ultra三維顯微鏡優勢
將納米級力學性能原位測試功能添加至您的Xradia Ultra 納米級的3D X射線顯微鏡。
能夠獲取樣品在負載情況下50納米空間分辨率的3D圖像
能夠實現多種納米級力學性能測試模式，包括壓縮，拉伸以及壓痕測試
能夠對包括金屬，陶瓷，復合材料，高分子材料以及生物材料在內的多種材料進行分析研究
能夠補充電鏡，微米CT以及一些獨立的檢測設備等力學測試手段，實現多尺度下理解材料的性能變化---從原子級和納米級到微米和宏觀尺度。
提供兩種模式，包括了不同大小的力值測量范圍
LS108: 最大力值0.8 N
LS190: 最大力值9 N
可與以下型號顯微鏡兼容：
ZEISS Xradia 800 Ultra
ZEISS Xradia 810 Ultra
Xradia UltraXRM-L200
Xradia nanoXCT-200
工作原理
用戶可自行配制ZEISS Xradia Ultra 原位加載臺，操作簡便。其壓電式機械致動器中配有閉環位置控制器，應變式力傳感器以及一套上下對頂的鐵砧確保各種模式能夠正常運行。將樣品安裝在兩個鐵砧之間，使用傳感器測量鐵砧對樣品的作用力，而這個作用力則是鐵砧位移的函數。
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